透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope, TEM)是材料、物理、化学以及生命等科学领域中非常有用的工具,我们常常需要使用透射电子显微镜来获取样本的表面(或形貌)以及内部等信息,比如科研工作者们可以利用冷冻透射电子显微镜(CryoEM)获得了新型冠状病毒的形貌(图1),这对我们了解材料并进一步对材料进行有针对性的处理有很大帮助。那么透射电子显微镜是如何工作的呢?
透射电子显微镜结构示意图,可以看到,透射电镜的结构是相当复杂的。在该图中只显示了光学系统,像各种透镜(Lens),光阑(Aperture),偏转器(Deflector)以及像散校正器(Stigmator),而各种收集EDS(能谱)、EELS(电子能量损失谱)、BF(明场)、ADF(环形暗场)、HADDF(高角环形暗场)、SE(二次电子)等信号的探测器并没有在图中给出。基于电子与样品相互作用时各种信号产生机制的不同(可以参考文章“Z-Contrast Image和Phase Contrast Image,散射和衍射”),不同探测器在透射电镜中的位置也不同,这也使得其结构比图中所示要复杂很多。更高级的透射电镜会安装球差校正器(Aberration Corrector)以减小由于透镜不完美而引起的分辨率下降等影响。在很多情况下,为了实时观察一些化学反应,还要向透射电镜中通入气体或引入某些光束,这就是我们常说的原位电镜实验(In-situ TEM),这进一步增加了透射电镜的复杂程度。所有的这些功能的实现都使得透射电镜的结构越来越复杂,当然也使得这些透镜越来越贵,但将越来越多的功能集中在一台设备上目前是大趋势,因为这样厂家可以提高自己产品的竞争力。
先介绍一下透射电镜的基本组成。透射电镜主要分三部分:照明系统,成像系统和投影系统。首先是照明系统,按照从上往下的顺序,为电子枪(Gun)和电子枪偏转器(Gun Deflector)。在电子枪和偏转器之间有加速电场,用于给电子枪产生的电子加速,加速电场由加速电压提供,加速电压可以根据实验的实际情况进行改变。电子枪加速器是用于偏转刚从电子枪出来的电子束,因为刚从电子枪出来的电子束往往并不是完美地沿着电子束轴传播,往往需要偏转器进行初步调节。接着是聚光镜(Condenser Lens